Πείραμα για την επίδραση Βαρέων Ιόντων σε FPGA

Αθήνα, 10 Ιανουαρίου 2018: Στα πλαίσια μιας πρωτότυπης δοκιμής του ισχυρότατου επιταχυντή SPS του CERN ως εργαλείου ελέγχου της αντοχής ηλεκτρονικών συσκευών σε ραδιενεργές ακτινοβολίες πολύ υψηλών ενεργειών, ομάδα ερευνητών και μηχανικών καθοδηγούμενη από τον Ευρωπαϊκό Οργανισμό Διαστήματος εκτέλεσε πολυήμερο πείραμα στις εγκαταστάσεις του CERN τον περασμένο Δεκέμβριο. Η ομάδα μελέτησε τις επιπτώσεις που έχει ο βομβαρδισμός των μικροτσιπ με βαρέα ιόντα ενέργειας έως 40 AGeV, τα οποία αντιπροσωπέυουν ένα ακραίο κομμάτι της κοσμικής ακτινοβολίας. Χάρη στις δυνατότητες των επιταχυντών του CERN, αυτό το είδος τεστ πραγματοποιήθηκε για πρώτη φορά στο επίπεδο του εδάφους κι επέτρεψε τη στενή παρακολούθηση των επιπτώσεων που έχουν τα πολύ ενεργητικά σωματίδια στις συσκευές που λειτουργούν στο διάστημα. Η Ελλάδα συμμετείχε στο πείραμα με τους δρ. Γ. Λεντάρη και υπ. δρ. Κ. Μαραγκό, του εργαστηρίου Microlab της ΣΗΜΜΥ, ΕΜΠ, μέλους του Συνεργατικού Σχηματισμού Διαστημικών Τεχνολογιών και Εφαρμογών (si-Cluster), να μελετούν τη συμπεριφορά συσκευών FPGA τεχνολογίας 28nm. Περισσότερες πληροφορίες εδώ.